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浅析无损探伤检测方法

  无损探伤是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下,对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。常用的无损探伤方法有:X光射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤等方法。无损探伤的目地是为了改进制造工艺;降低制造成本;提高产品的可靠性和保证设备的安全运行。无损探伤中的磁粉探伤原理是用来检测铁磁性材料表面和近表面缺陷的一种检测方法。当工件磁化时,若工件表面缺陷存在,由于缺陷处的磁阻增大而产生漏磁,形成局部磁场,磁粉便在此处显示缺陷的形状和位置,从而判断缺陷的存在。无损探伤中的磁粉探伤种类可分为周向磁化法、纵向磁化法、复合磁化法、旋转磁化法、直流磁化法等。

  磁粉探伤的缺陷是设备简单、操作容易、检验迅速、具有较高的探伤灵敏度,可用来发现铁磁材料镍、碳素钢及某些合金钢的表面或近表面的缺陷。无损探伤适于薄壁件或焊缝表面裂纹的检验,也能显露出一定深度和大小的未焊透缺陷;但难于发现气孔、隐藏在焊缝深处的缺陷。无损探伤产生漏磁的原因是由于铁磁性材料的磁率大于非铁磁材料的导磁率,根据工件被磁化后的磁通密度来分析,而在缺陷区域的单位面积上不能容许磁力线通过,就迫使一部分磁力线挤到缺陷下面的材料里,无损探伤的其它磁力线不得不被迫逸出工件表面以外形成漏磁,磁粉将被这样所引起的漏磁所吸引。无损探伤产生漏磁的影响因素是缺陷的磁导率和磁化磁场强度大小。缺陷的磁导率越小则漏磁越强,磁化力越大漏磁越强。